物相定性定量分析、點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)定、微晶晶粒大小及微觀畸變分析、非晶材料及結(jié)晶度分析、薄膜分析、納米材料分析、晶體
技術(shù)支持
Technical support
設(shè)備名稱：X射線衍射儀 日本理學(xué)
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冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（SEM）
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環(huán)境氣氛球差校正場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡:微觀
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