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    冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM)

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    高精密度電子光學(xué)儀器。用于材料的組織、結(jié)構(gòu)、斷口等分析。應(yīng)用于材料科學(xué)、醫(yī)學(xué)、生物、等領(lǐng)域樣品的微觀形貌觀察、結(jié)構(gòu)分析、成分測試

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